资料下载

您现在的位置:首页  >  资料下载  >  关于成像光谱技术的橙子斑点及损伤快速识别研究分析报告

关于成像光谱技术的橙子斑点及损伤快速识别研究分析报告
发布时间:2017/8/17浏览:2882次

本研究以橙子为研究对象,分析橙子的黑白斑区域与损伤区域。其中橙子的黑白斑、损伤是非人为故意形成。高光谱成像数据采集采用四川双利合谱科技有限公司的 GaiaSorter高光谱分选仪系统。该系统主要由高光谱成像仪(V10E)、CCD 相机、光源、暗箱、计算机组成。

图像处理分析

采用SpecViewENVI/IDL对高光谱数据的预处理及分析,预处理中的镜像变换、黑白帧校准在SpecView中进行;其他数据的分析在ENVI/IDL中进行。

文件下载    图片下载    
北京卓立汉光仪器有限公司 版权所有    备案号:京ICP备05015148号-4

技术支持:化工仪器网    管理登陆    网站地图

联系电话:
010-5637 0168-696

微信服务号