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基于高光谱成像技术的贡梨损伤与农药残留检测研究分析

点击次数:749 发布时间:2017/8/10
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水果的损伤及水果表面农药的残留等不仅会造成果蔬的腐烂,而且会严重影响消费者的身体健康。因此水果损伤与农药残留的快速有效检测是非常有实际价值的。虽然水果的损伤、农业残留区域和正常区域在外部特征上呈现出大的相似性,但是损伤区域和农药残留部位发生一定的变化,这种变化可以通过特定波长下的光谱表现出来。

高光谱图像技术结合了光谱分析和图像处理的技术优势,对研究对象的内外部品质特征进行检测分析,赵杰文等利用高光谱图像技术检测水果轻微损伤,准确率为88.57 %;Jasper G .Tallada等分别应用高光谱图像技术对不同成熟度的

草莓表面损伤、苹果的表面缺陷及芒果的成熟度检测进行了试验研究。王玉田等运用荧光光谱检测出水果表面残留的农药;胡淑芬等运用激光技术对水果

表面农药残留进行了试验研究;薛龙等针对水果表面农药残留,以滴有较高浓度的脐橙为研究对象,利用光谱范围425-725 nm的高光谱图像系统进行检测,发现对较高浓度的农药残留检测效果较好。本文采用高光谱图像技术检测不同水果的损伤区域和农药残留区域,以实现损伤区域和农药残留区域共同识别的目的。

 
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