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  • MAPS-SHG系列偏振二次谐波扫描成像系统
    偏振二次谐波扫描成像系统

    偏振二次谐波扫描成像系统，采用共聚焦的激发和收集方式，可实现带偏振的二次谐波成像。该系统可以与用户的飞秒激光器耦合，实现全电动化偏振分辨的微区二次谐波测试

    产品型号：

    MAPS-SHG系列

    厂商性质：

    生产厂家

    更新时间：

    2026-05-19

    浏览次数：

    14

  • MAPS-TR反射/透射光谱共聚焦扫描成像系统
    反射/透射光谱共聚焦扫描成像系统

    反射/透射光谱共聚焦扫描成像系统采用“所见即所得”的测量方式，即反射与透射测量方式均能在直接观测样品成像时看到测量光斑，成像与测量光路通过电机切换。标准系统可满足紫外/可见/近红外波段的测试需求，对于特殊波段可进行优化设计及光路定制

    产品型号：

    MAPS-TR

    厂商性质：

    生产厂家

    更新时间：

    2026-05-18

    浏览次数：

    90

  • MAPS-LTMS系列低温/磁场微区光谱测试系统
    低温/磁场微区光谱测试系统

    低温/磁场微区光谱测试系统解决方案。它支持最高达12 T磁场，低至2.8 K环境下的微区光学测试。包括荧光，荧光寿命，反射光谱，拉曼光谱，偏振分辨二次谐波，光电流，磁光克尔与反射磁圆二色。主要应用于磁性二维材料或磁性薄膜材料与器件的磁性表征，居里温度表征，表面拓扑磁结构表征，磁畴扫描成像

    产品型号：

    MAPS-LTMS系列

    厂商性质：

    生产厂家

    更新时间：

    2026-05-18

    浏览次数：

    26

  • 微区-磁光克尔效应测试系统
    微区-磁光克尔效应测试系统

    北京卓立汉光仪器有限公司全新推出微区-磁光克尔效应测试系统，可根据用户需求提供定制化解决方案，产品范围涵盖微区磁光克尔系统和磁圆二色测试系统，并可根据用户需求升级拓展拉曼，荧光，荧光寿命及二次谐波等模块，可用于检测样品表面磁性和磁畴结构，适用于磁性材料、二维铁磁材料和自旋电子器件等应用领域。

    产品型号：

    厂商性质：

    生产厂家

    更新时间：

    2024-11-26

    浏览次数：

    2442

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