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SPM600系列半导体参数分析仪是一款专用于半导体材料光电测试的系统。其功能全面，提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描，光电流扫描以及光响应速率测试。40μm 探测光斑，实现百微米级探测器的绝对光谱响应度测量。超高稳定性光源支持长时间的连续测试，丰富的光源选择以及多层光学光路设计可扩展多路光源，例如超连续白光激光器，皮秒脉冲激光器，半导体激光器，卤素灯，氙灯等，满足不同探测器测试功能的要求
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2024-05-20
2807
超快荧光测试系统FLIM 显微荧光寿命成像技术（Fluorescence Lifetime ImagingMicroscopy，FLIM）是一种在显微尺度下展现荧光寿命空间分布的技术，由于其不受样品浓度影响，具有其他荧光成像技术无法代替的优异性能，目前在生物医学工程、光电半导体材料等领域是一种重要的表征测量手段。
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2024-05-20
4934
Omni-λ750i系列“影像谱王”光栅单色仪/光谱仪双出口可同时配置两个CCD；
Omni-λ750i系列
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2024-05-20
4074
Omni-λ500i系列“影像谱王”光栅单色仪/光谱仪采用C-T结构设计，采用超环面影像校准设计；
Omni-λ500i系列
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2024-05-20
3535
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Omni-λ300i系列
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2024-05-20
4283
Omni-λ200i系列“影像谱王”光栅单色仪/光谱仪双光栅塔台设计，覆盖UV-VIS-IR全波段光谱范围，即插即用，只需零级校正，实验操作更加方便；
Omni-λ200i系列
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2024-05-20
3467
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